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高压加速老化试验箱 |
面向地区 |
水蒸气自然对流循环
缺水时处置方法
1.当设备缺水时，警示系统会以连续的警示声告知。设备缺水分两种情况：a、机器刚启动，工作时间未开始计时，就水位不足，此种情况机器无法启动；b、工作过程中，水位不足，此时机器会鸣叫警示并切断电热管，温度会慢慢下降，但工作时间还会持续再进行。
2.将水由注水口注入水箱。
3.工作程序会自动继续执行。
PCT试验箱使用说明
1.使用PCT老化试验箱前请详读操作保养手册。
2.建议使用蒸馏水或R.O.水以保护锅体使用安全。
3.使用PCT前请确认关闭手动排气阀门。
4.工作完成后如压力指示器未回到0kg/cm²。开门前请打开手动排气阀排除内锅剩余压力，直到内锅压力回到0kg/cm²。
5.工作完成后将测试物品留置在锅内时间过长，将可能发生锅门无法开启的现象，那是因为冷热空气收缩造成的压差所导致，处理方式很简单，只要打开手动排气阀排除内锅气体，锅门就可打开。
PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
安全保护装置
A、误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.
B、超压安全保护：当锅内压力超过大工作值自动排气泄压.
C、超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
D、防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
E、手动安全保护排压伐.
PCT试验箱对半导体的PCT测试：PCT主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
产品特点
1. 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
2. 采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。
4. 圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5. 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。
6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9. 安全阀，当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
试验箱采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。可模拟自然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、黑暗等环境条件，通过重现这些条件，合并成一个循环，并让它自动执行完成循环次数。ZN-P
通过考核对材料及其防护层的盐雾腐蚀的能力，以及相似防护层的工艺质量比较，同时可考核某些产品抗盐雾腐蚀的能力；该产品造用于零部件、电子元件、金属材料的防护层以及工业产品的盐雾腐蚀试验,根据试验需求可以分为：中性盐雾试验、酸性盐雾试验、铜加速醋酸盐雾试验。
结构特点
☆试验室底座采用8#槽钢网式结构焊接,承载力强,能避免底部凹凸及开裂现象.
☆温度控制准确，精度高。由于采用了特的风道系统设计及电控系统，能保持整个房间温度高度均匀性，大大同类产品
☆内壁采用304不锈钢,外箱采用彩钢板,保温介质为聚氨酯硬质发泡,具有质轻隔热效果好等特点.
☆采用正压式天花板送风循环系统,温度均匀度和稳定度高.
☆系统保护功能，能确保安全长期稳定无故障运行.
☆外形美观，施工方便，施工周期短.
循环腐蚀试验以一种重复的循环周期将样板暴露在一系列不同的环境条件之中，Q-FOG腐蚀试验箱循环式腐蚀试验比传统的盐雾试验对材料的侵蚀作用更为接近自然
